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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM

Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM

Zusammenfassung des Produktkatalogs
Einleitung
Der Produktkatalog 2024/2025 von Hitachi High-Tech präsentiert die neuesten Entwicklungen in der Elektronenmikroskopie, mit Fokus auf Feldemissions-Elektronenstrahlquellentechnologie, die seit 1969 bedeutende Fortschritte gemacht hat.
Elektronenquellen
Der Katalog beschreibt kalte Feldemitter, Schottky-Emitter und thermische Wolfram-Emitter. Kalte Feldemitter eignen sich für hochauflösende Abbildungen, Schottky-Emitter für allgemeine Anwendungen und thermische Emitter für industrielle Anwendungen.
Objektivlinsenarten
Es werden klassische feldfreie Linsen, elektrisch-magnetische Kombilinsen und magnetische Immersionslinsen beschrieben, die jeweils spezifische Vorteile für unterschiedliche Anwendungen bieten.
Air Protection
Hitachi bietet ein Air Protection Konzept, das Proben in einer Inertgasumgebung schützt, um empfindliche Materialien vor atmosphärischem Kontakt zu bewahren.
Produktlinien
Der Katalog umfasst Tisch- und Kompakt-REM, fokussierte Ionenstrahlsysteme und Transmissions-Elektronenmikroskope, die für spezifische Anwendungen optimiert sind.
Fazit
Hitachi bietet eine breite Palette an Elektronenmikroskopen, die durch Leistungsfähigkeit und Zuverlässigkeit überzeugen und innovative Lösungen für komplexe Herausforderungen bieten.
Produktübersicht
Die SU3800/SU3900 VP-REM Produktfamilie zeichnet sich durch hochauflösende Feldemissions-REM-Systeme aus, die für verschiedene Anwendungen konzipiert sind.
Hauptmerkmale
Die Modelle bieten eine große Probenkammer mit herausziehbarer Probenbühne, die Proben bis zu 200mm Durchmesser und 80mm Höhe aufnehmen kann, mit einer maximalen Probenmasse von 2kg.
Technische Spezifikationen
Die Auflösung im Hochvakuum beträgt bei 30kV 3.0nm, bei 3kV 8nm und bei 1kV 15nm. Die SU3800SE/SU3900SE Modelle bieten eine höhere Auflösung mit 0.9nm bei 30kV und 2.5nm bei 1kV.
Elektronenquellen
Die Systeme nutzen thermische Wolfram-Emitter oder Schottky-Feldemitter, wobei letztere eine höhere Auflösung und schnellere Arbeitserfolge bieten.
Software und Automatisierung
Die Systeme sind mit automatischen Justagefunktionen ausgestattet, die die Optik anpassen und den Arbeitskomfort erhöhen.
Besondere Anwendungen
Die SU9000 II Modelle kombinieren oberflächenabbildendes REM mit Raster-Transmissions-Mikroskopie (STEM) für extreme Auflösungen.
Zusammenfassung
Die SU3800/SU3900 Produktfamilie bietet vielseitige und hochpräzise Lösungen für die Materialanalyse und -abbildung.
Hauptmerkmale des SU9000 II
Das SU9000 II bietet ein einstufiges, energiegefiltertes Detektorsystem, simultane REM-Abbildung und einen großen, fensterlosen EDX-Detektor für hochauflösende Analysen.
Optionale Zubehörteile
Optionen umfassen ein fensterloses EDX-System, ein Energieverlust-Spektrometer (EELS) und Automatisierungstools wie den EM Flow Controller.
Software und Automatisierung
Tools wie MirrorCLEM und ACAT bieten erweiterte Automatisierungs- und Korrelationstechniken.
Fokussierte Ionenstrahlsysteme (FIB)
Die NX5000 Plattform ist für TEM Lamellen und MultiSignal-REM Untersuchungen konzipiert.
Transmissions-Elektronenmikroskope (TEM)
Die HT7800 Familie unterstützt Anwendungen von Lebens- bis Materialwissenschaften.
Schlussfolgerung
Die beschriebenen Systeme bieten fortschrittliche Lösungen für die Elektronenmikroskopie mit hoher Flexibilität und Präzision.
Produktmerkmale und Spezifikationen
Der Katalog beschreibt hochentwickelte Systeme und Technologien, darunter ein 360° Tomographiehalter und eine kalte Feldemissionsquelle.
Probenvorbereitung und Querschnittspräparation
Die IM Serie unterstützt die REM Probenvorbereitung mit Argon-Ionen Poliersystemen und flexiblen Ionenstrahlparametern.
Reinigungstechnologien
Die ZONE Reiniger nutzen UV-Licht und freie Sauerstoffradikale zur Entfernung von Kohlenwasserstoffkontaminationen.
Erweiterte Funktionen und Zubehör
Optionen umfassen Flatmilling Ausrüstung und optimierte Cryo Querschnittshalter.
Kontaktinformationen
Für weitere Informationen stehen Kontaktstellen in Deutschland, Österreich und der Schweiz zur Verfügung.
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Katalogauszüge

Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-2

Hitachi’s Welt der Elektronenmikroskopie In dieser Übersichtsbroschüre stellen wir Ihnen, nach Produktklassen geordnet, die breite Palette der Elektronenmikroskopie aus dem Haus Hitachi vor. Lassen Sie sich inspirieren von der Vielfalt unterschiedlicher Geräte, mit denen sich auch Ihre Anwendung zuverlässig abdecken lässt! 1969 begann Hitachi mit der Entwicklung der FeldemissionsElektronenstrahlquellentechnologie (FE). In nur drei Jahren entwickelte Hitachi erfolgreich ein FE-REM, indem es eine praktische FE-Technologie schuf. Seitdem wird die FE-Technologie von Hitachi seit mehr als 40 Jahren...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-3

Elektronenquellen in den Hitachi REM Familien Thermische Wolfram Emitter Die bevorzugte Wahl für generelle Anwendungen von Abbilden bis Analysieren. Material olfram-Draht mit scharfer Krümmung W zum Ausformen einer Spitze Objektivlinsenarten in den Hitachi REM Familien Elektronenstrahl Magnetische Linse Virtueller Quellendurchmesser ein magnetisches Feld ein, was das Mikroskopieren verschiedenster Probentypen industriellen Routineumfeld zum Einsatz, wo Strukturen Thermische Emitter liefern sehr hohe Probenströme bis in den Mikro- Ampere-Bereich und sind daher auch für schnelle automatisierte...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-4

Probenhandhabung unter Inertgasbedingungen Air Protection Leicht oxidierende oder hygroskopische Probenmaterialien dürfen zum Erhalt ihrer Eigenschaften nicht mit der Atmosphäre in Kontakt kommen. Sie erfordern daher sowohl vor, als auch besonders nach der Präparation als Querschnitt oder Oberflächenschliff auf dem Weg zum REM eine strikte Handhabung in einer Inertgasumgebung. Die Geräte der IM Serie wie auch die Hitachi REM können im Rahmen von Hitachi‘s „air protection“ Konzept so ausgerüstet werden, dass eine vollständige Handhabung unter Schutzgasatmosphäre jederzeit gewährleistet ist. Alle...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-5

optimale Elektronenoptik Fokussierte Ionenstrahlsysteme

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-7

1 Thermische Wolfram Emitter VP-REMs mit thermischer Elektronenquelle REM Abbildung und Elementanalyse in Minutenschnelle Kupfer-Sulfid Kristalle. 5kV, SE Signal Korrodierter Kupferdraht. 10kV, SE Signal Al Kosmetik Puder, EDX Analyse. 15kV Profi-EDX mit Sensorgrößen bis 65mm2 Automatische MehrbereichsBildaufnahmen („Multi-zigzag“) Automatisierung via Python Scripting oder EM Flow Creator Hitachi Map 3D Pakete für Zusatzfunktionen wie 3D Rekonstruktion, Rauigkeitsmessung, Partikel- und Porenanalysen, Bildbearbeitung, Farbsegmentierung, etc Produktmerkmale EDX mit 30mm2 oder 60mm2 Sensorgröße...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-8

1 Thermische Wolfram Emitter VP-REMs mit thermischer Elektronenquelle Volle REM-Funktionalität im kompakten intuitiven Design Optionales Zubehör itachi Map 3D Pakete H für Zusatzfunktionen wie 3D Rekonstruktion, Rauigkeitsmessung, Partikelanalysen, Bildbearbeitung und Farbsegmentierung, etc. sind optional Produktmerkmale 4nm @ 20kV Hochauflösende Elektronenoptik mit Strahlenergien zwischen 300eV und 20keV Hoch- und regelbares Niedervakuum bis 100Pa SE und 4+1 Segment Rückstreu-detektor Standard, Niedervakuum SE optional (UVD); auch für Kathodolumineszenz sowie STEM Abbildungen nutzbar, Optische...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-10

Thermische Wolfram Emitter Modulare VP-REM Plattform | 2 Probenkammern | 2 Elektronenoptik-Typen SU3800 Proben bis 229mm Durchmesser können vollständig begutachtet werden (SU3900) Fokussierte Ionenstrahlsysteme Profi Analysezubehör (EDX, EBSD, µ-XRF, CL, …) Probenschleusen, auch für Inertgas-Transfer Spezialisierte Vielfach Proben- und Filterhalter Hitachi Map 3D Pakete für Zusatzfunktionen wie 3D Rekonstruktion, Rauigkeitsmessung, Partikel- undPorenanalysen, Bildbearbeitung, Farbsegmentierung, etc Flexible und effektive Automatisierung von Routinearbeiten via EM Flow Creator Für den perfekten...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-11

2 Thermische Wolfram Emitter Zwei Probenkammern / euzentrische Bühnen: Zwei Elektronenoptiken: Wolfram Glühkathode Schottky Emitter Schottky Feldemitter Ist die vielfältig einsetzbare Standard Variante der Produktfamilie. Die große analytische Probenkammer mit der für schnelle Probenwechsel vollständig herausziehbaren euzentrischen Probenbühne nimmt Proben mit bis zu 200mm Durchmesser und 80mm Höhe (im analytischen Arbeitsabstand) auf. Die maximale Probenmasse von 2kg kann mit allen 5 Tisch-Achsen bewegt werden. Ist mit der um 150mm x 150mm verfahrbaren euzentrischen Probenbühne die robuste Lösung...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-12

SU9000 II 34 MirrorCLEM Software Erweiterungen

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-13

Hochauflösende Feldemissions REM Schottky Emitter Kalter Feldemitter Hoch- und Höchstauflösende Feldemissions-REM Hitachi‘s hochstauflösende Schottky VP FE-REM stehen in zwei Versionen zur Auswahl, die sich hinsichtlich der Probenkammer und Probenbühne unterscheiden: Hitachi‘s bewährter kalter Feldemitter mit seiner scharfen Spitze, schmalbandigen Emission und langen Lebensdauer treibt zwei auf Höchstauflösung und spezielle Analytik optimierte REM an: eine Probe zugänglich. Auch EDX Analysen lassen sich beim Standard-Arbeitsabstand von 6mm in kürzester Zeit ausführen. Zum Erreichen hoher Auflösungen...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-14

Schottky Emitter Booster Ratte Großhirnrinde* Erfassung verschiedener Signale Die Ausscheidungen entlang der Korngrenzen sind bei der Erfassung von SE-Bildern mit dem UD deutlich sichtbar (oberes Bild), während Korngröße und Verformung bei der Erfassung des BSE-Kanalisierungskontrasts leicht zu erkennen sind (unteres Bild). Hi-Pixel Auflösung Das rote rechteckige Feld im oberen Bild wird im unteren Bild mit einer höheren digitalen Vergrößerung dargestellt. Die Strukturen des Originals sind deutlich sichtbar und die hohe Qualität bleibt erhalten. Bild mit hoher Pixelauflösung bis zu 40 960 x 30...

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Produktkatalog: REM, FIB, BIB, TEM-15

Perfekte Balance zwischen Abbildung und Analyse Schottky Emitter Booster 150mm Prober-Shuttle Kleindiek PS8e auf der herausgezogenen SU7000 Bühne Mesoporöses Silizium Spannungskontrast auf einem chip SU7000 richtet sich an Anwender mit auch großen oder schwereren Proben und Bedarf für die Brilliante Abbildungsleistungen - ohne Notwendigkeit für ein Gegenfeld an der Probe - von 100V (10V Option) bis zu 30kV Beschleunigungsspan-nung Optionales Zubehör Große analytische Probenkammer mit vielen Zugangsports für Zubehör, und einer euzentrischen Probenbühne für Proben bis 80mm Höhe und 200mm Durchmesser...

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.