3D-Oberflächenmessung perfekt ins Bild gesetzt

3D-Oberflächenmessung perfekt ins Bild gesetzt Eine hoch präzise Oberflächenanalyse ist in Industrie und Forschung unerlässlich, um die optimale Leistungs fähigkeit von Werkstoffen und Komponenten zu gewährleisten. Aber die Sache ist nicht ganz einfach: Ober flächen können komplexe Strukturen mit steilen Flanken aufweisen, die eine laterale Auflösung von wenigen Mikrometer erfordern, oder kritische Mikroerhebungen und -senken zeigen, die eine vertikale Analyse im SubNanometerbereich erfordern. Während die Konfokalmikroskopie eine hohe laterale Auflösung bietet, wird die Interfermetrie benötigt,...

LEICA DCM8 3D-OBERFLÄCHENMESSUNG PERFEKT INS BILD GESETZT 3 "Mit dem Leica DCM System können wir nun erstmals topographische Messungen anbieten und haben auf diese Weise eine Reihe neuer Projekte und Kunden gewonnen." Stephan Ramseyer, IMA, Haute Ecole Arc Ingenierie, La Chaux-de-Fonds, Schweiz LEICA DCM8 3D-OBERFLÄCHENMESSUNG PERFEKT INS BILD GESETZT 3 Erfahren Sie mehr über Anwendungen in der Oberflächenmessung oder teilen Sie Ihr Fachwissen mit unserer Community www.leica-microsystems.com/science-lab Dargestellt mit optionalem Schwingungsdämpfungstisch

Vielseitig und präzise – erfüllt Ihre individuellen Anforderungen an die Oberflächenmesstechnik Beim Leica DCM8 verbinden sich die Vorteile der HD-Konfokalmikroskopie und der Interferometrie mit einer Vielzahl von Zusatzfunktionen, die die präzise und reproduzierbare Charakterisierung unterschiedlicher Werk stoffoberflächen erleichtern. Dank der integrierten Megapixel-CCD-Kamera und der vier LED-Lichtquellen bietet das Profilometer eindrucksvolle Echtfarbbildgebung und erfüllt so alle Dokumentationsanforderungen. OPTIMALE LATERALE AUFLÖSUNG MIT HD-KONFOKALMIKROSKOPIE Mit Konfokaltechnologie lassen...

LEICA DCM8 VIELSEITIG UND PRÄZISE – ERFÜLLT IHRE INDIVIDUELLEN ANFORDERUNGEN AN DIE OBERFL ÄCHENMESSTECHNIK OPTIMALE VERTIKALE AUFLÖSUNG MIT HD-INTERFEROMETRIE Wenn eine vertikale Auflösung von bis zu 0.1 nm erforderlich ist, ist der Interferometriemodus des Leica DCM8 die perfekte Wahl. Das System kann glatte, extrem glatte und extrem polierte Oberflächen analysieren, sodass mit einem einzigen System ein breites Anwendungsspektrum abge deckt wird. Um unterschiedlichen Anforderungen, einschließlich der Analyse reflektierender Oberflächen, gerecht zu werden, bieten wir ein komplettes Sortiment...

VIER LEDS FÜR HD-BILDGEBUNG IN RGB UND EIN BREITES ANWENDUNGSSPEKTRUM Das Leica DCM8 ist mit vier LEDs aus gestattet: blau (460 nm), grün (530 nm), rot (630 nm) und weiß (zentriert 550 nm). Durch eine höhere Zahl verfügbarer Farben und damit Wellen längen wird das Anwendungsspektrum erweitert. Wenn Sie beispielsweise mit Halbleiter-Wafers und Fotolack arbeiten und die Probe empfindlich für blaues Licht ist, haben Sie die Möglichkeit, bei der Bildaufnahme ausschließlich rotes Licht zu verwenden. Ultrascharfe Farbbilder Dank der RGB-LEDs in Kombination mit der HD-CDD-Kamera kann das Leica DCM8...

LEICA DCM8 VIELSEITIG UND PRÄZISE – ERFÜLLT IHRE INDIVIDUELLEN ANFORDERUNGEN AN DIE OBERFL ÄCHENMESSTECHNIK Graphische Darstellung interner Elemente DREI METHODEN FÜR DIE DICK- UND DÜNNSCHICHTMESSUNG Das Leica DCM8 bietet drei Methoden für die Dickenmessung: Konfokal-, Interferometrie- und spektroskopischen Reflektometermodus. Mit dem Konfokal- und dem Interferometrieverfahren kann die Dicke einer transparenten Schicht oder Folie sowie die Oberfläche des Schichtsubstrats oder die Schicht-Luft-Grenzfläche gemessen werden. Zu den Optionen für Dickenmessungen gehören Einzelpunkt, Profil und Topographie....

DIE PASSENDE KONFIGURATION UND DAS RICHTIGE OBJEKTIV FÜR IHRE PROBEN Optik von atemberaubender Qualität Beim Leica DCM8 kommen unsere weltbekannten Objek tive für Konfokal-, Hellfeld- und Dunkelfeld-Bildgebung mit einer Vergrößerung von 1.25x bis 150x und einem breiten Spektrum an Arbeitsabständen für die unterschiedlichsten Anforderungen zum Einsatz. Wenn Sie Ihre Proben mit der höchsten lateralen Auflösung analysieren müssen, stehen Immersionsobjektive mit hohen numerischen Aperturen zur Verfügung. Für die Analyse einer unter einer transparenten Schicht liegenden Oberfläche ermöglichen unsere...

LEICA DCM8 VIELSEITIG UND PRÄZISE – ERFÜLLT IHRE INDIVIDUELLEN ANFORDERUNGEN AN DIE OBERFL ÄCHENMESSTECHNIK Motorisierter Objektivrevolver Auswahl handpolierter Linsen, die das Herzstück unserer Objektive bilden Ein sortiment manueller und motorisierter Objekttische ist für verschiedene Probenarten verf

Schnell, einfach, langlebig – optimale Ergebnisse bei geringem Zeit-, Kosten- und Arbeitsaufwand Zuverlässige, präzise Oberflächencharakterisierung ist in vielen Anwendungsbereichen eine Grundvorausset zung, aber in der Fertigung zählt auch Geschwindigkeit, um kostspielige Unterbrechungen des Produktionspro zesses zu vermeiden. Das Leica DCM8 ist bedienerfreundlich und schnell bei der Erfassung von Oberflächenda ten und Bildern. Die intuitive Software erleichtert auch die weitere Analyse, und das robuste Design gewähr leistet eine lange Lebensdauer mit niedrigen Gesamtbetriebskosten. PROBENVORBEREITUNG...

LEICA DCM8 SCHNELL, EINFACH, L ANGLEBIG – OPTIMALE ERGEBNISSE BEI GERINGEM ZEIT-, KOSTEN- UND ARBEITSAUF WAND SCHNELLES AUFNEHMEN GROSSER OBERFLÄCHEN MIT GROSSEM SICHTFELD UND TOPOGRAPHIE-STITCHING Dank der integrierten hoch auflösenden CCD-Kamera hat integrierten, hoch auflösenden CCD-Kamera hat das Leica DCM8 ein sehr großes Sichtfeld. Deshalb kann ein größerer Bereich der Probenoberfläche auf einmal erfasst werden, was zu einem effizienteren Arbeitsablauf führt. Alles im Blick Bei der Qualitätskontrolle industrieller Komponenten kann sowohl eine hoch aufgelöste Messung eines kleinen Ausschnitts...