Aufrechte Mikroskope für Routineanwendungen in der Materialuntersuchung Leica DM750 M Leica DM1750 M Leica DM2700 M
Katalog auf Seite 1 öffnenLEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M MATERIALUNTERSUCHUNGEN AUS VERSCHIEDENEN BLICK WINKELN MASSGESCHNEIDERTE ANWENDUNGSSYSTEME Ihre Materialuntersuchung im besten Licht darzustellen, Mit der ergonomischen Bedienung des Leica DM2700 M ist unser oberstes Ziel. Hierfür setzen Leica-Entwickler sehen Sie, wie brillante Aufnahmen und entspanntes ihre ganze Erfahrung ein. Aber Ziel der Entwicklung Arbeiten kombiniert werden können. Denn noch nie war ist nicht nur, Ihnen immer beste Bildqualität zu bieten. es so einfach, ein Mikroskop zu bedienen. Schon mit der einfachen Bedienung des Einstiegsmik- Und...
Katalog auf Seite 3 öffnenLEICA DM750 M Die ökonomische Lösung für das Präparationslabor und die einfache Routine in der Materialuntersuchung Mit seinem unschlagbaren Preis-Leistungs-Verhältnis setzt das Leica DM750 M neue Maßstäbe in der RoutineMaterialmikroskopie. Sie behalten die wichtigen Details im Blick, je nach Beschaffenheit der Probe sogar aus unterschiedlichen LED-Beleuchtungswinkeln - einfach mehr sehen und aussagekräftige Untersuchungsergebnisse erzielen, z. B. in der Qualitätskontrolle, der Schadensanalyse oder bei Materialprüfungen. Die brillante Optik, aber auch die einfache und sichere Handhabung dieses...
Katalog auf Seite 4 öffnen1, 2: Aluminium-Silizium, Hellfeld; Kupfer-Zink-Verformungslinie
Katalog auf Seite 5 öffnenFerrit C35, Untereutektoider Perlit, N Plan 100×, Hellfeld Ferrit C35, Untereutektoider Perlit, N Plan 100×, schräge Beleuchtung
Katalog auf Seite 6 öffnenLEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M MATERIALUNTERSUCHUNGEN AUS VERSCHIEDENEN BLICKWINKELN 7 LEICA DM1750 M Fokus auf die Aufgaben im Labor Das neue Leica DM1750 M Mikroskop wurde mit Blick auf den Routineeinsatz auch unter rauen Umgebungsbedingungen und zur Aufnahme größerer Proben entwickelt. Robust und solide gebaut, verfügt das Leica DM1750 M über die exzellente Optik von Leica Microsystems und lässt Ihnen viel Spielraum, was die Größe Ihrer Proben betrifft. Auch hier haben Sie die Möglichkeit, den Beleuchtungswinkel der Power-LEDs zu variieren und so optimal auf Ihre Probe einzustellen. Außergewöhnlich...
Katalog auf Seite 7 öffnenFerrit C60, Untereutektoider Perlit, N Plan 50×, BF Ferrit C60, Untereutektoider Perlit, N Plan 50×, DF Ferrit C60, Untereutektoider Perlit, N Plan 50×, DIC
Katalog auf Seite 8 öffnenLEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M MATERIALUNTERSUCHUNGEN AUS VERSCHIEDENEN BLICKWINKELN 9 LEICA DM2700 M Komfort ist kein Luxus Neben höchster optischer Qualität und der Hochleistungs-LED-Beleuchtung bietet das Leica DM2700 M vor allem Arbeitskomfort, wie er in dieser Klasse einmalig ist. Sie arbeiten mit einem Standardgerät für Routineaufgaben, machen aber bei Leistung und Ausstattung keine Kompromisse. Das Mikroskop lässt sich vollkommen an seinen Benutzer anpassen und vermeidet so Verspannungen, Haltungsschäden und langfristige gesundheitliche Beeinträchtigungen. Bequemer und einfacher ist...
Katalog auf Seite 9 öffnenDIE STARKEN TEAMPLAYER Eine für alle – die LAS Mikroskop-Software mit zahlreichen Modulen LEICA APPLICATION SUITE Gemeinsame Software-Plattform für alle Mikroskope und Digitalkameras von Leica Microsystems ist die Leica Application Suite (LAS). In Kombination mit den Leica DFC Kameras mit FireWire-Anschluss lässt sich ein optimal aufeinander abgestimmtes Analyse- und Inspektionssystem aufbauen, je nach Bedarf z. B. für die Korngrößenbestimmung oder die Phasenkontrolle. So ist beispielsweise die Erweiterung eines reinen Dokumentationssystems auf ein System für die Analyse von Einschlüssen im Stahl...
Katalog auf Seite 10 öffnenLEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M MATERIALUNTERSUCHUNGEN AUS VERSCHIEDENEN BLICKWINKELN 11 LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M MATERIALUNTERSUCHUNGEN AUS VERSCHIEDENEN BLICKWINKELN 11 LEICA PHASE EXPERT Phasenanalyse für Material- und Metallurgielabore ist eine regelmäßig anfallende, aber doch anspruchsvolle Analyseaufgabe, bei deren Durchführung Zeit und Effizienz eine große Rolle spielen. Mit dem Leica Phase Expert führen Sie eine automatische, objektive und reproduzierbare Messung mehrphasiger Mikrostrukturen anhand markanter Farben oder Kontraste durch. So werden unterschiedliche Komponenten...
Katalog auf Seite 11 öffnenLEICA und das Leica Logo sind registrierte Markenzeichen von Leica Microsystems IR GmbH. Leica Cast Iron Expert bewertet qualitativ hochwertige Bilder, die von den Leica Mikroskopen bereitgestellt werden. Die Software LAS verknüpft in intelligenter Form die neuesten Entwicklungen in der automatisierten Mikroskopie, der Datenverarbeitung und der digitalen Bildanalyse. 13IDE45010DE • Copyright © by Leica Microsystems (Schweiz) AG, CH-9435 Heerbrugg, 2015. Änderungen vorbehalten. LEICA CAST IRON Inverses, manuelles Mikroskop für Materialanalyse, Industrielle Qualitätsprüfung und -sicherung oder...
Katalog auf Seite 12 öffnen10 Seiten
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