TopMap Familie
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TopMap Familie TopMap Familie Oberflächenmesstechnik in neuer Dimension Produktbroschüre

Präzisionsgefertigte und technische Oberflächen verdienen eine ebenso verlässliche wie hochgenaue Oberflächenmesstechnik. Die Maßhaltigkeit und Funktionalität sowie eine frühestmögliche Defekterkennung vermeiden Zusatzaufwand und erhöhen die gesamte Produktqualität sowie Lebensdauer. Die Weißlicht-Interferometer der TopMap Familie von Polytec sind innovative, hochpräzise und berührungslose Werkzeuge für raue, glatte oder stufige Oberflächen. TopMap Oberflächenmessgeräte finden weltweit Einsatz zur Qualitätssicherung sowohl im Messlabor, in Produktionsumgebung oder gar direkt in der...

Strukturierte Funktionsoberflächen mit engen Toleranzen erfordern hochpräzise Messsysteme, die in kurzer Zeit flächig die Topografie eines Werkstücks oder Objektes aufnehmen. Die etablierte Weißlicht-Interferometrie arbeitet mit einer Auflösung von wenigen Nanometern oder sogar Subnanometern. STRAHLTEILER REFERENZSTRAHL REFERENZ EBENE Prinzipaufbau der WeißlichtInterferometrie nach Michelson Warum optisch messen? MM ■ Berührungsfrei, zerstörungsfrei und wiederholbar ■ Vollständige Flächeninformationen in 3D ■ Auf beinahe allen Oberflächen ■ Ausgezeichnete laterale Auflösung ■...

Breites Anwendungsspektrum Eine Vielfalt an Lösungen Verzug an Platinen (Warpage) Öffnungswinkel beim Kegelsitz Überall dort, wo es um die Prüfung feinster Komponenten und Strukturen geht, sind die TopMap Oberflächenmesssysteme von Polytec in ihrem Element. Die berührungslose Weißlicht-Interferometrie misst mit einer Auflösung von wenigen Nanometern oder sogar Subnanometern. Deshalb sind die Polytec TopMap Geräte zu Standardwerkzeugen in der industriellen Qualitätskontrolle geworden. Configuration with portal stand, Rauheit von Funktionsflächen Optische Komponenten automated z-axis,...

Höhen & Stufen Fertigungstoleranzen in kurzer Zeit überprüfen … mit höchster Präzision, Wiederholbarkeit und basierend auf rückführbaren Normalen. Dank des großen vertikalen Verfahrwegs und ihrer Auflösung im Nanometerbereich sind die Weißlicht-Interferometer optimal für die rückwirkungsfreie Messung von Ebenheiten, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen und bei fast allen Materia

TopMap Metro.Lab Kompakte 3D-Oberflächenmessstation Das TopMap Metro.Lab von Polytec ist ein hochpräzises Weißlicht-Interferometer (Coherence Scanning Interferometer) mit einem großen vertikalen Messbereich. Berührungslose Messungen der Ebenheit, Stufenhöhe und Parallelität an großen Flächen und Strukturen selbst weicher und filigraner Materialien sind daher ideale Anwendungen für das TopMap Metro.Lab. Einstieg in die Weißlicht-Interferometrie Als komplette Messstation erlaubt das TopMap Metro.Lab Messungen mit großem Gesichtsfeld und einer Auflösung im Nanometer-Bereich. Die offene...

TopMap In.Line Die integrierte Lösung Das TopMap In.Line ist ganz auf die Bedürfnisse der Qualitätssicherung in der Fertigung zugeschnitten, wenn Taktzeiten entscheiden und Oberflächen mit hoher Durchlaufgeschwindigkeit und Präzision berührungslos zu messen sind. Oberflächen schnell in der Fertigungslinie auswerten Dank seiner kompakten Bauform lässt sich das TopMap In.Line elegant und sicher in die Fertigungslinie integrieren. Da es keine Objektive benötigt, werden Kollisionen und Beschädigungen an Optik oder Bauteiloberflächen vermieden. Es überprüft zuverlässig und innerhalb kurzer...

TopMap Micro.ViewfOptisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails Das TopMap Micro.View® ist das Kompaktsystem als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen. Mit einer 100 mm großen Z-Achse misst das Micro.View® mit einer Auflösung im Nanometerbereich und dank integrierter CST Continuous Scanning Technology nutzt es den vertikalen Verfahrweg komplett als Messbereich. Der kompakte Tischaufbau mit integrierter Elektronik besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit mit Focus Finder für schnelle und einfache Messvorgänge. Kompakt und leistungsfähig Die optionale ECT...

TopMap Micro.View®+ Modulare optische 3D-Messstation für Rauheit und Mikrostrukturen TopMap McoVto*' TopMap Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstellungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Die 5 MP-Kamera nimmt 3D-Messbilder bis ins letzte...

TopMap Pro.Surf Der Oberflächen-Profi Das TopMap Pro.Surf bestimmt Formabweichung schnell, zuverlässig und präzise. Die High-End-Lösung TopMap Pro.Surf ist optimal zur Messung präzisionsgefertigter Oberflächen – im Messlabor, produktionsnah und dank hoher Wiederholpräzision auch direkt in der Produktionslinie. Präzisionsgefertigte Oberflächen zuverlässig überprüfen Dank hoher vertikaler wie lateraler Auflösung, telezentrischer Optik sowie hoher Messgeschwindigkeit bleiben dem Pro.Surf keinerlei Details verborgen. Binnen weniger Sekunden erfasst es ohne Stitching zwei Millionen Messpunkte...

TopMap Pro.Surf+ Der Alleskönner Das TopMap Pro.Surf+ als neuestes Familienmitglied bestimmt Formabweichung und Rauheit bequem in einem – schnell, zuverlässig und präzise. Hier wird die High-End-Lösung Pro.Surf zur All-In-One Lösung erweitert mit integriertem Rauheitssensor und neuem Datenerfassungskonzept. Kombinierte Messung von Formabweichung und Rauheit Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhe, Parallelität plus Rauheit bietet die Multisensorik die kundenspezifische Lösung. Weiterhin bestechen die hohe vertikale und laterale...