microme|x neo 160 microme|x neo 180
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Leistungsstarke Lösung für Röntgeninspektionen Mit zerstörungsfreier planarCT-Platineninspektion microme|x neo 160 microme|x neo 180 nanome|x neo 18

phoenix microme|x neo und nanome|x neo Hochauflösende 160/180 kV-Mikro-/NanofokusRöntgeninspektionssysteme mit 3D-CT-Option Die phoenix micromeIx neo und nanomeIx neo Serie vereinigt hochauflösende 2D-Röntgentechnologie und 3D-CT in einem einzigen System. Innovative und einzigartige Merkmale sowie eine extrem hohe Positionierungsgenauigkeit machen beide Systeme zur effizienten und zuverlässigen Lösung für ein breites Spektrum von 2D- und 3D-OfflineInspektionsaufgaben: F&E, Schadensanalyse, Prozess- und Qualitätskontrollel. Die phoenix|x-ray x|act-Technologie bietet leicht programmierbare...

Hervorragende DXR-HD-Live-Bildgebung Mit dem eigenentwickelten hochdynamischen DXRDetektor von GE mit verbesserter Szintillatortechnologie führt phoenix|x-ray einen neuen Industriestandard für effiziente Liveinspektion ein: Die volle Bildrate von 30 Bildern pro Sekunde bei 1000x1000 Pixeln bietet geringes Rauschen verbunden mit herausragender Bildqualität, was eine schnelle und detaillierte Liveinspektion ermöglicht Aktive Temperaturstabilisierung für präzise und zuverlässige Inspektionsergebnisse FLASH! Filter optimierte Hohlräume in einer offenen µBGA-Kugel: 1.970-facher geometrischer...

Hochauflösende 3D-Computertomografie Für die erweiterte Inspektion und 3D-Analyse von kleineren Proben ist optional die eigenentwickelte 3D-CT-Technologie von phoenix|x-ray erhältlich. Leistungsstarke 180kV Technologie sowie schnelle Bilderfassung mit DXR-Detektor und diamond|window in Kombination mit der schnellen Rekonstruktionssoftware von phoenix|x-ray sorgen für Inspektionsergebnisse von hoher Qualität Maximale Voxelauflösung bis zu 2 Mikron; die nanoCT®-Funktion des nanome|x ermöglicht dabei eine höhere Bildschärfe nanoCT® von TSVs in einem Elektronikpaket. Die Hohlräume in der...

x|act - CAD-basierte Inspektion: hochauflösende µAXI für besonders hohe Fehlererkennung Als Lösung für µAXI mit besonders hoher Fehlererkennung bietet phoenix|x-ray die hochpräzisen Systeme micromeIx neo und nanomeIx neo inklusive des einzigartigen x|act-Softwarepakets für schnelle und einfache CADOfflineprogrammierung. Ihre intuitive neue grafische Benutzeroberfläche mit verbesserter*, herausragender Genauigkeit und Wiederholbarkeit, kleinen Ansichten mit Auflösungen von nur *AXI capabilities provide the outstanding precision wenigen Mikrometern, 360°-Drehung und einer um bis zu 70°...

IHRE VORTEILE phoenix microme|x und nanome|x neo Hervorragende Liveinspektionsbilder durch das hochdynamische DXRDigitaldetektorfeld von Baker Hughes Einzigartige Mikro-/Nanofokus-Hochleistungsröhre mit 180 kV / 20 W auch für stark absorbierende Elektronikproben Minimierte Einrichtezeit durch hocheffiziente automatisierte CAD-Programmierung Live-Overlay von CAD- und Inspektionsergebnissen selbst bei gedrehten Inspektionsansichten mit abgewinkelter Bildachse Besonders hohe Fehlererkennung und Wiederholbarkeit Beste Detailerkennbarkeit von 0,5 µm oder sogar 0,2 µm mit Nanofokus Optionale...

Technische Daten und Konfigurationen nanome|x neo 180 Röntgendetektor Hochdynamischer GE DXR250RT, 1000 x 1000 Pixel, temperaturstabilisiert mit aktiver Kühlung für herausragende Live-Bildgebung und besonders schnelle CT Datenerfassung, 200 x 200 µm Pixelgröße, bis zu 30 BpS bei voller Bildgröße Geometrische Vergrößerung CMOS-Flachdetektor mit 1536 x 864 Pixeln und hohem Kontrast, 75 µm Pixelgröße Detailerkennbarkeit Röntgenröhrentyp Max. Röhrenspannung/-leistung auf Target Heizdraht Wartungsarme offene Nanofokusröhre mit unbegrenzter Lebensdauer, Transmissionstyp, 170° Öffnungswinkel,...